多层陶瓷电容器 (MLCC)

作者:Ashley Awalt

投稿人:DigiKey

概述

本文档将涵盖多层陶瓷电容器的基础知识、测试电容器的适当程序及老化/抗老化处理的说明。

描述

MLCC(多层陶瓷电容器)是电子行业使用最普遍的电容器。I 类陶瓷电容器(即NP0, C0G)为共振电路提供高稳定性和低损耗,但提供的容积效率低。它们不需要任何老化校正。II 类和 III 类(X7RX5R)提供高容积效率,但提供的稳定性比 I 类电介质低。有时候,这些电容器会超出制造商的判定时间,就可能需要老化校正。判定时间指的是制造商认为电容器在指定容差范围内的时间框架。

典型 MLCC 的图片

图 1:典型的 MLCC

测试

由于存在内部阻抗,大多数 LCR 表无法测试高值(1 µF 及更高)MLCC。阻抗低至 1 Khz,实际上会汲取电表供应的电流,最终将指定电压降至 0,从不允许电容器暴露于所需的电压下进行测试。要进行验证,在使用真正的 RMS 表进行测试的情况下测量通过电容器的电压。如果电压低于 0.4 VRMS,电容读数将较低。选择阻抗与被称为自动电平控制 (ALC) 的功能相匹配的 LCR 表。这些电表将降低其自身的阻抗,直到其低于所测试的设备。通常,这仍是不够的,需要放大器装置来提高通过电容器的电流,直到通过它的电压从 0.5 VRMS-1 VRMS 达到预设水平。

老化

分类为具有高介电常数的电容器的电容将随时间推移减小。这通常以每十年的百分比下降表示。温度补偿电容器(I 类)不具有老化特性。

抗老化

如果老化对电容器造成了影响,可以通过将其加热到 Curie 温度以上来反转。大多数制造商规范的 Curie 温度约为 125°C 或以上,该温度通常在焊接过程达到。务必在进行此尝试前检查制造商的规范。将电容器加热到 Curie 温度以上会调整介质材料的分子结构,从而恢复 MLCC 电容。电容测量值在此时通常较高,操作人员应等到裁判时间过去,以使电容器再次处于规范容差范围内。电容器冷却后,老化过程将重新开始。

参考资料

  1. II 类和 III 类陶瓷电容器电容的 Kemet 测量 PDF
  2. Murata 陶瓷电容器常见问题解答
  3. TDK Corporation 陶瓷电容器常见问题解答 PDF
  4. DigiKey 测试高电容 MLCC 论坛

免责声明:各个作者和/或论坛参与者在本网站发表的观点、看法和意见不代表 DigiKey 的观点、看法和意见,也不代表 DigiKey 官方政策。

关于此作者

Ashley Awalt

Ashley Awalt 是一名应用工程技术人员,自 2011 年以来一直在 DigiKey 工作。她通过 DigiKey 奖学金计划获得了北国社区技术学院电子技术和自动化系的应用科学副学士学位。其目前的职责是协助创建独特的技术项目,记录流程并最终参与项目视频媒体报道的制作。在业余时间,Ashley 喜欢——哦哦,等等,当要照顾孩子的时候,还有空闲时间吗?

关于此出版商

DigiKey

DigiKey 总部设在美国明尼苏达州锡夫里弗福尔斯市,是一个同时针对原型开发/设计提供小批量供应、针对生产提供大批量供应的全球电子元件综合服务提供商,在 DigiKey 上提供 750 多家优质制造商品牌、六百多万种产品。