测试高容量MLCC

作者:Digi-Key工程师 Robert Fay

大多数LCR测量仪由于其内部阻抗而无法测试高容量MLCC。在1KHz的频率下,所有容量为1.0uF及以上的MLCC的阻抗都非常低,因此测量仪的电源电流就会被耗尽,从而导致额定电压降至0伏,因此电容就无法获得所需的电压。如果用标准的RMS测量仪进行测试,可以通过测量穿过电容的电压来验证这一点。如果电压小于0.4Vrms,则每次的电容读数都会很低。

一些中档的LCR测量仪具有阻抗匹配能力,即ALC(自动电平控制)功能。该功能可使测量仪降低自身的阻抗,直到低于被测设备。然而,对于大多数高容量MLCC而言,仅仅如此是不够的。这些电容还需要使用放大器单元来增加通过电容的电流,直到通过电容的电压达到预设水平(0.5Vrms-1Vrms)。我们这里的机器Agilent 4284A,其同时具备了这两种功能。

这些电容也可能出现老化问题,但您要先确保测试方法正确,然后再尝试纠正任何老化的问题。

这是一篇由Steve Maloy所著的优秀文章,其中也谈到了MLCC的老化问题。

这里还有一篇由TDK的Mark Waldrip和Richard Tse所著的优秀文章,其中深入研究了电容测量问题。
http://www.digikey.com/en/pdf/t/tdk/capacitance-measurement

LCR测量仪是一种用于测量电子元件的电感( L )、电容( C )和电阻( R )的仪表或电子测试设备。
以下是我制作的一个短视频,有助于说明测试MLCC

另请参阅
MLCC常见故障问题:机械应力裂纹帖
为什么陶瓷电容似乎不合规格,但其实不然?

英文原文链接:Testing High Capacitance MLCC’s - Capacitors - Electronic Component and Engineering Solution Forum - TechForum │ Digi-Key