可以从3个方面入手
1. 初步检查与静态测试
- 断开电路：确保光耦已从原电路中移除，避免其他元件干扰。
- 检查输入侧发光二极管：
- 使用万用表的二极管档，红表笔接阳极（通常为1脚），黑表笔接阴极（2脚），正常时应显示约0.8-1.5V的正向压降；反向测量时应显示开路。
- 若正向无压降或反向导通，说明发光二极管损坏。
- 测试输出侧光电晶体管：
- 用万用表电阻档测量输出端（通常为集电极4脚和发射极3脚），无输入时电阻应接近无穷大。
- 当给输入侧通电（如5V电源串联1kΩ限流电阻），输出侧电阻应显著下降（如几kΩ），否则光电晶体管可能损坏。
2. 动态功能测试
- 搭建测试电路：
- 输入侧：用电源（如5V）串联限流电阻（如1kΩ）驱动发光二极管，确保电流在数据手册范围内（通常5-20mA）。
- 输出侧：连接集电极到电源（如5V）并通过负载电阻（如1kΩ），发射极接地。
- 信号传输测试：
- 用信号发生器或开关控制输入侧通断，示波器同时监测输入和输出波形。
- 正常时输出波形应与输入同步，延迟时间（如μs级）符合手册要求。
3. 参数验证
- 电流传输比（CTR）测试：
- 测量输入电流 I_fIf 和输出电流 I_cIc，计算 CTR = (I_c / I_f) \times 100%CTR=(Ic/If)×100%，对比手册标称值（如50%-200%）。
- 若CTR过低，可能光耦老化或损坏。